ICT頻繁報(bào) “開路” 或 “接觸錯(cuò)誤”
213現(xiàn)象:同一測(cè)試點(diǎn)反復(fù)測(cè)試失敗,更換 PCB 后仍在相同位置報(bào)錯(cuò)。一測(cè)就報(bào) N 個(gè)開路點(diǎn),有的板子重測(cè)又好了。 板面問題 治具/探針問題 測(cè)試方法/電氣設(shè)置 環(huán)境與流程 清潔/更換周期沒管控,針頭與板面都“越測(cè)越臟” 快速定位(1...
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FCT(Functional Circuit Test,功能測(cè)試)不僅要驗(yàn)證產(chǎn)品的電氣功能,還要保證其通信可靠性與協(xié)議一致性。在 CAN/LIN 總線測(cè)試中,核心目標(biāo)包括:
PTI-300 是 PTI 派捷基于多年測(cè)量與測(cè)試經(jīng)驗(yàn)開發(fā)的自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái),具有以下特點(diǎn):
現(xiàn)象:同一測(cè)試點(diǎn)反復(fù)測(cè)試失敗,更換 PCB 后仍在相同位置報(bào)錯(cuò)。一測(cè)就報(bào) N 個(gè)開路點(diǎn),有的板子重測(cè)又好了。 板面問題 治具/探針問題 測(cè)試方法/電氣設(shè)置 環(huán)境與流程 清潔/更換周期沒管控,針頭與板面都“越測(cè)越臟” 快速定位(1...
查看全文ICT(In Circuit Test ,在線電路測(cè)試 )是電子制造行業(yè)常用的電路板靜態(tài)測(cè)試手段,借助專門測(cè)試設(shè)備,對(duì)電路板上元器件及電路連接進(jìn)行檢測(cè) ,具體介紹和測(cè)試要點(diǎn)如下: 一、ICT測(cè)試介紹定義:利用測(cè)試機(jī)、測(cè)試治具(如針床 ),接觸電路板測(cè)試點(diǎn),施加電壓、信號(hào)...
查看全文在SMT(表面貼裝技術(shù))生產(chǎn)制程中,AOI(自動(dòng)光學(xué)檢測(cè))和首件檢測(cè)是兩種不同的質(zhì)量控制手段,在檢測(cè)階段、技術(shù)原理、應(yīng)用場(chǎng)景等方面存在明顯差異。以下是具體對(duì)比: 一、核心定義與技術(shù)原理 AOI(自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)) 定義:通過光學(xué)攝像頭對(duì)PCB(印刷電路板)上...
查看全文在汽車電子領(lǐng)域,EMC(Electromagnetic Compatibility, 電磁兼容)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是非常關(guān)鍵的要求,用來確保電子零部件在整車環(huán)境下既不會(huì)產(chǎn)生過度的電磁干擾,又能抵抗外部干擾。主要分為 整車標(biāo)準(zhǔn) 和 零部件/子系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn) 兩大類。 ...
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