提升 PCBA 植針率的全流程優(yōu)化
193在 ICT(In-Circuit Test,在線測試)中,PCBA 的植針率(即探針與測試點(diǎn)的有效接觸率)直接影響測試準(zhǔn)確性和效率。提升植針率需從設(shè)計(jì)優(yōu)化、探針管理、治具維護(hù)、PCBA 質(zhì)量控制等多維度入手,具體措施如下: 測試點(diǎn)的設(shè)計(jì)是提升植針率的基礎(chǔ),需從源頭避免接觸...
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在汽車電子領(lǐng)域,EMC(Electromagnetic Compatibility, 電磁兼容)測試標(biāo)準(zhǔn)是非常關(guān)鍵的要求,用來確保電子零部件在整車環(huán)境下既不會(huì)產(chǎn)生過度的電磁干擾,又能抵抗外部干擾。主要分為 整車標(biāo)準(zhǔn) 和 零部件/子系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn) 兩大類。
測試項(xiàng)目 | 國際/通用標(biāo)準(zhǔn) | 國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn) | 車廠標(biāo)準(zhǔn)(示例) |
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輻射發(fā)射 (Radiated Emission) | CISPR 12(車外干擾)CISPR 25(車內(nèi)干擾) | GB 14023(等同CISPR 12)GB/T 18655(等同CISPR 25) | VW 80000BMW GS 95002MBN 10284FORD EMC-CS-2009.1GM GMW 3097 |
傳導(dǎo)發(fā)射 (Conducted Emission) | CISPR 25 | GB/T 18655 | 同上 |
整車輻射抗擾度 (Vehicle Radiated Immunity) | ISO 11451 系列 | GB/T 17619(等同ISO 11452 整車部分) | VW 80000BMW GS 95002FORD EMC-CS-2009.1 |
零部件輻射抗擾度 (Component Radiated Immunity) | ISO 11452 系列 | GB/T 17619(等同ISO 11452 零部件部分) | VW 80000MBN 10284Chrysler CS-11809 |
瞬態(tài)干擾 (Transient / Pulse) | ISO 7637 系列 | GB/T 19951(等同ISO 7637-2) | VW 80000GM GMW 3172FORD EMC-CS-2009.1 |
靜電放電 (ESD) | ISO 10605 | GB/T 17626.2(等同IEC 61000-4-2)部分車廠采用 ISO 10605 | VW 80000BMW GS 95002MBN 10284 |
電磁兼容整車法規(guī) | ECE R10 | GB/T 33014(等同ECE R10 部分要求) | 各主機(jī)廠會(huì)基于ECE R10 再擴(kuò)展 |
在 ICT(In-Circuit Test,在線測試)中,PCBA 的植針率(即探針與測試點(diǎn)的有效接觸率)直接影響測試準(zhǔn)確性和效率。提升植針率需從設(shè)計(jì)優(yōu)化、探針管理、治具維護(hù)、PCBA 質(zhì)量控制等多維度入手,具體措施如下: 測試點(diǎn)的設(shè)計(jì)是提升植針率的基礎(chǔ),需從源頭避免接觸...
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